IC 夹具

制造商 系列 包装 产品状态 类型 位置或引脚数量(网格) 触点表面处理 触点材料

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结果
图片 厂商型号 可用性 价格 数量 数据表 系列 包装 产品状态 类型 位置或引脚数量(网格) 触点表面处理 触点材料
6107

6107

TEST CLIP SOIC 32 (2 X 16)

Pomona Electronics

0 -
6107

数据表

SOIC Clip® Bulk Obsolete SOIC, 0.30 to 0.60" Wide 32 (2 x 16) Gold -
6108

6108

TEST CLIP SOIC 40 (2 X 20)

Pomona Electronics

0 -
6108

数据表

SOIC Clip® Bulk Obsolete SOIC, 0.30 to 0.60" Wide 40 (2 x 20) Gold -
6151

6151

TEST CLIP QFP 144 (13 X 13)

Pomona Electronics

0 -
6151

数据表

6151 - Obsolete QFP, 0.50mm Pitch 144 (13 x 13) Gold -
6152

6152

TEST CLIP QFP 176 (14 X 14)

Pomona Electronics

0 -
6152

数据表

6152 - Obsolete QFP, 0.50mm Pitch 176 (14 x 14) Gold -
5214

5214

TEST CLIP DIP 14 (2 X 7)

Pomona Electronics

0 -
5214

数据表

DIP Clip® - Obsolete DIP, Standard 14 (2 x 7) Gold Beryllium Copper
5220

5220

TEST CLIP DIP 20 (2 X 10)

Pomona Electronics

0 -
5220

数据表

DIP Clip® Bulk Obsolete DIP, Open Back 20 (2 x 10) Gold Beryllium Copper
5224

5224

TEST CLIP DIP 24 (2 X 12)

Pomona Electronics

0 -
5224

数据表

DIP Clip® - Obsolete DIP, Open Back 24 (2 x 12) Gold Beryllium Copper
5240

5240

TEST CLIP DIP 40 (2 X 20)

Pomona Electronics

0 -
5240

数据表

DIP Clip® - Obsolete DIP, Open Back 40 (2 x 20) Gold Beryllium Copper
6109

6109

TEST CLIP SOIC 44 (2 X 22)

Pomona Electronics

0 -
6109

数据表

SOIC Clip® Bulk Obsolete SOIC, 0.30 to 0.60" Wide 44 (2 x 22) Gold -
6150

6150

TEST CLIP QFP 100 (11 X 11)

Pomona Electronics

0 -
6150

数据表

6150 - Obsolete QFP, 0.50mm Pitch 100 (11 x 11) Gold -
923884-40-I

923884-40-I

TEST CLIP DIP 40 (2 X 20)

3M

0 -
923884-40-I

数据表

923 Bulk Active DIP with Cable Assembly 40 (2 x 20) - Nickel Silver
923884-20-I

923884-20-I

TEST CLIP DIP 20 (2 X 10)

3M

0 -
923884-20-I

数据表

923 Bulk Active DIP with Cable Assembly 20 (2 x 10) - Nickel Silver
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